涂镀层测量仪MMS PC2，搭载 Windows™ CE 操作系统，是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。设备通过插卡实现模块化设计，能实现与同名手持式仪器相同的功能。为较大程度地提高适用性，可从丰富的探头种类中选择相应的探头，以定量测量样品的各种属性和规格，如涂镀层厚度、导电性以及铁素体含量等。

XAN涂镀层测厚仪特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。

XDV-µ涂镀层厚度测量仪是专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜，光斑直径（FWHM）可达10至60µm。短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了通用型XDV-µ型仪器，还有专门为电子和半导体行业而设计的仪器。如XDV-µ LD是专为测量线路板而优化的，而XDV-µ

FISCHER通过GOLDSCOPE涂镀层厚度测量仪系列仪器，为无损的黄金和贵金属测试提供定制化解决方案。这些耐用的X射线荧光仪器，其软硬件均为珠宝黄金行业而设计。专注于重要的功能，在控制成本的同时仍只采用广受认可、高质量的组件。

TIME2501覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性（锌铝铬铜橡胶油漆等）覆盖层厚度的测量。本仪器符合下列有关标准：GB/T4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法 可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

TIME®2113超声波测厚仪测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精*测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。该机可实现0.01mm的高分辨力。 测厚仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零。