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当前位置:首页产品展示19462211伟德 电解/涂层测厚仪涂层测厚仪TT230
产品型号:
更新时间:2024-08-16
厂商性质:经销商
访 问 量 :1985
0574-86861636
氧化膜涡流测厚仪TT230
产品概述:
氧化膜涡流测厚仪TT230是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。
氧化膜涡流测厚仪TT230可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;
该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
符合以下标准:
GB/T 4957-1985 涡流方法;JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》;JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪;
功能特点:
采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层);
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据;
设有五个统计量:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差;
具有米、英制转换功能;
具有打印功能,可打印测量值、统计值;
具有欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能;
具有自动关机功能;
技术参数:
测头类型:N;
测量原理:电涡流;
测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬) ;
低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um);
探头连接方式:一体化;
示值误差: 一点校准(um):±[3%H+1.5];
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5];
测量条件: zui小曲率半径(mm):凸3 | 凹10;
基体zui小面积的直径(mm):ф5;
zui小临界厚度(mm):0.3;
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH;
统计功能:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差;
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);
测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
上下限设置:无;
存储能力:15个测量值;
打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑;
关机方式:自动;
电源:二节3.6V镍镉电池;
外形尺寸:150×55.5×23mm;
重量:150g;
基本配置
主机;
铝基体;
标准片一套;
充电器;
使用说明书;
合格证书。
氧化膜涡流测厚仪TT230
氧化膜涡流测厚仪TT230
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