产品型号:
更新时间:2019-07-22
厂商性质:经销商
访 问 量 :7496
0574-86861636
快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频
● 测量频率1MHz~300MHz
● 基本精度±0.72%rdg.
● 测量时间:快0.5ms
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪的测试治具。
测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
测量频率 | 100 kMHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进) |
测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
测量时间 | 快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg |
附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |