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当前位置:首页产品展示19462211伟德 超声波测厚仪CMX DL+无损检测超声波测厚仪
产品型号:
更新时间:2022-06-08
厂商性质:经销商
访 问 量 :1213
0574-86861636
CMX DL+无损检测超声波测厚仪多层厚度The CMX DL+ 测厚仪不仅有MVX的所有功能,而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。CMX DL+无损检测超声波测厚仪产品特点:
测量方式(仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度)
显示模式(数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>)
增益可调节:超低、低、中、高、超高
增益值可到110dB
自动增益控制(AGC)
时间增益校正(TCG)
探头自动识别,自动调零和温度补偿
最大值、最小值显示
可存储64个用户参数设置
高速扫查(50次/秒)
高达140HZ的脉冲重复频率
B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
A扫描波形显示和RF显示(CMX DL+)
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限声光报警功能
数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
可通过软件与计算机进行数据交换,方便用户打印检测报告
技术参数:
界面波-底波(P-E)方式:0.63-508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm
多层测量(PECT)方式:0.63-508mm(基体) 0.01-2.54mm(表面涂层)
穿透涂层测量(E-E)模式:2.54—102mm(因涂层的不同会有所变化)
仅测量涂层(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂层的不同会有所变化)